质谱仪是一种测定带电粒子质量和分析同位素的重要工具,它的构造原理如图 质谱仪是一种测定带电粒子质...质谱仪是一种测定带电粒子质量和分析同位素的重要工具,它的构造原理如图质谱仪是一种测定带电粒子质量和分析同位素的重要工具,它的构造原理如图所示,离子源S产生的各种不同正离子束(速度可看作为零),经加速电场加速后垂直进入有界匀强磁场,到达记录它的照相底片P上,设离子在P上的位置到入口处S1的距离为x.第一问求该离子的比荷q比m多大?第二问若离子源产生的是带电荷量为q质量为m1和m2的同位素离子（m1大于m2）他们分别到达照相底片上p1,p2位置（图中未画出）求p1p2间的距离的他x
问题描述：
质谱仪是一种测定带电粒子质量和分析同位素的重要工具,它的构造原理如图 质谱仪是一种测定带电粒子质...
质谱仪是一种测定带电粒子质量和分析同位素的重要工具,它的构造原理如图
质谱仪是一种测定带电粒子质量和分析同位素的重要工具,它的构造原理如图所示,离子源S产生的各种不同正离子束(速度可看作为零),经加速电场加速后垂直进入有界匀强磁场,到达记录它的照相底片P上,设离子在P上的位置到入口处S1的距离为x.第一问求该离子的比荷q比m多大?第二问若离子源产生的是带电荷量为q质量为m1和m2的同位素离子（m1大于m2）他们分别到达照相底片上p1,p2位置（图中未画出）求p1p2间的距离的他x
答
没有图,我按照我自己理解,是不是粒子进入磁场后走了一个半圆然后打在底片上,如果这样,则第一问实际上就是利用2R=X,然后利用半径公式以及加速电场等条件代入,就可以求出比荷.第二问类似,比荷不同,半径不同.