物理测量仪器刻度平均问题
问题描述：
物理测量仪器刻度平均问题
在制作物理测量仪器时,往往考虑刻度的平均问题.比如说s=vt属于一次函数中的正比例函数,制作的测量仪器刻度从理论上讲是均匀的,因为它是一次函数；再如L=m/p（m是常数,m>0；L,p是变量p>0）则L是p的反比例函数制作的测量仪器刻度从理论上讲是不均匀的.谁能把这个理论说明白些,为什么有这个理论?
总之意思就是说为什么一次函数是均匀的,反比例函数是不均匀的?
答
这种说法有些奇怪.
首先说测长度s . 有一点基础是,在人们的时间观中,时间是平均的,这是一切测量的基础.
你知道国际的标准长度单位是如何定义的吗?
是激光在某某介质中走某某秒所走过的长度.
这是因为光的速度恒定,s与t成正比,所以我们用t来作为s的标准
对于任意 y=kx
我们取 任意的 x1 、x2 、x3 成等差数列.
他们所对应的y1 、y2、 y3也成等差数列.
这是不难证明的.
这就是所谓的均匀.
而对于任意y=x/k
取 任意的 x1 、x2 、x3 成等差数列.
他们所对应的y1 、y2、 y3不能保证他们成等差数列.
所以y 对于x就是不均匀的.
这个靠理解..