从X射线衍射图谱上能得到哪三方面的信息?他们分别有什么应用?谢谢

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一、谱图横坐标2θ,从而知道掠射角θ(入射角的余角,又称为布拉格角).然后就可以求得谱线对应的晶面-晶面间距d值；最后可获得晶体的长宽高几何尺寸.
可参见我的以前回答：
二、谱图的谱线强度（纵标）；如果是照片、感光底片的话,就是光斑的亮度.
影响衍射强度各因子的物理意义及其计算方法
衍射线的强度能反映晶体内微观结构信息,因此进行衍射强度分析的过程也是完成晶体结构判断的过程；衍射强度分析是衍射分析基本理论的重要组成部分.影响实际单相粉晶的某条衍射线强度的因素很多,其中可分为6大部分的影响因素：
第1部分是物理常数,不属于影响因素；
第2部分为实验参数,列为第1个影响因素的原子散射因子f与实验参数有关.
第3部分是与样品晶体结构有关的参数.其中多重性因子p和结构因子F(hkl)是第2个和第3个影响因素；
第4部分是与布拉格角（掠射角）θ有关的角因子,它由两个因子合并而成：偏振因子（或称为Thomson因子）和洛伦兹（Lorentz）因子 ；
第5部分是导致X射线强度衰减的吸收因子,它也是一个影响因素；
第6部分是为修正原子热振动影响的温度因子.
其中结构因子F(hkl)最感兴趣：
F(hkl)由晶格结构决定,即由晶胞中原子的种类和原子位置分布决定.通常Fj表原子的原子散射因子,用Xj、Yj、Zj表原子j的位置.Fj的物理意义是j原子的相对于一个电子的散射波振幅之比,可按公式计算.结构因子是决定衍射强度的主要因素,它的计算方法一般为先假设晶胞中原子的可能坐标（xyz）然后进行结构振幅或衍射强度的计算,将计算结果与实测数据进行比较,若两者吻合并且还能得到其它实验如NMR、IR的旁证,则说明所假设结构正确；否则需修正假设,再计算,再比较,直至逼近吻合.这就是通过结构因子推求晶体结构的主要途径.F(hkl)有各种表达式.这里面的理论知识很多,也是X射线衍射分析的高级研究内容,这里不能赘述.
三、所有横标纵标信息、强度信息、谱线分布谱线组合全体搭配信息,通俗地讲就是衍射花样,是XRD的重要信息,从中可能也可以导向对谱图进行解析、归属谱线到晶面、推导出晶体的晶系晶型等等!