二氧化硅的红外光谱和XRD谱图的解析二氧化硅的红外谱图峰分析测试二氧化硅样品后在以下位置有峰,求高手解析.波数 : 3441.90(OH) 1629.68(HOH) 1103.05(SiO) 970.27(?) 798.69(SiO) 470.11(SiOSi)这是我们的样品测试的XRD谱图,我们不会解析,求助各位大侠.里面可能有二氧化硅,氧化铝,氧化铁等,求全分析.AngleIntensity %d value2-Theta °%Angstrom7.09418.712.449999.2294.89.5748814.14532.76.2562817.07520.75.1886418.58219.44.7711121.78894.44.0758622.96238.53.8700424.05030.63.6972825.92934.03.4334527.57158.03.2326729.545100.03.0210131.74315.92.8166333.03012.82.70
二氧化硅的红外光谱和XRD谱图的解析
二氧化硅的红外谱图峰分析
测试二氧化硅样品后在以下位置有峰,求高手解析.
波数 : 3441.90(OH) 1629.68(HOH) 1103.05(SiO) 970.27(?) 798.69(SiO) 470.11(SiOSi)
这是我们的样品测试的XRD谱图,我们不会解析,求助各位大侠.里面可能有二氧化硅,氧化铝,氧化铁等,求全分析.
Angle
Intensity %
d value
2-Theta °
%
Angstrom
7.094
18.7
12.44999
9.229
4.8
9.57488
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32.7
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10.9
1.29331
75.392
7.8
1.25974
82.450
7.6
1.16886
84.066
11.9
1.15046
具体见下图.
解决了一定加分!
大侠能不能把这个XRD图有人解释一下?
波数:3441.90 cm-1处出现的较宽的吸收峰,对应于-OH基的反对称伸缩振动和对称伸缩振动.1629.68(HOH).1103.05(SiO) cm-1处出现的强吸收谱带归属于Si-O-Si的反对称伸缩振动吸收.970.27(?),因为此区域处于指纹区,此峰不...