薄膜厚度测控技术中的干涉法的物理原理

分类: 作业答案 • 2021-12-28 18:45:43

问题描述：

薄膜厚度测控技术中的干涉法的物理原理

答

由于重力因素,薄膜的厚度并不是均与分布的,而是上面薄,下面厚,这样导致了光束通过薄膜时具有不同的光程差,这样就导致了原光场分布相位的变化,可以在屏幕上观察到干涉条纹