利用薄膜干涉可检查工件表面的平整度.如图（a）所示，现使透明标准板M和待检工件N间形成一楔形空气薄层，并用单色光照射，可观察到如图（b）所示的干涉条纹，条纹的弯曲处P和Q对应于
问题描述：
利用薄膜干涉可检查工件表面的平整度.如图（a）所示，现使透明标准板M和待检工件N间形成一楔形空气薄层，并用单色光照射，可观察到如图（b）所示的干涉条纹，条纹的弯曲处P和Q对应于A和B处，下列判断中正确的是（ ）A. N的上表面A处向上凸起
B. N的上表面B处向上凸起
C. 条纹的cd点对应处的薄膜厚度相同
D. 条纹的d、e点对应处的薄膜厚度相同
答
薄膜干涉是等厚干涉，即明条纹处空气膜的厚度相同．条纹的cd点在直条纹处，故cd点对应处的薄膜厚度相同，
从弯曲的条纹可知，A处检查平面左边处的空气膜厚度与后面的空气膜厚度相同，知A处凹陷，
B处检查平面右边处的空气膜厚度与后面的空气膜厚度相同，知B处凸起，
故选：BC．