能否用光电效应法测金属逸出功,为什么
问题描述：
能否用光电效应法测金属逸出功,为什么
答
可以的,金属逸出功一般有两种实验方法,一种是热激发法,一种就是光激发法.采用光电效应测量时必须是可以产生外光电效应的金属（即光照射后可产生光电子从金属表面脱离）,根据爱因斯坦光电方程hf=1/2*m*V^2+A来求解.其中h为普朗克常数,f为光频率,1/2*m*V^2为光电子动能,A为逸出功.实验中需要解决的是f的测量（使用不同波长的滤光片即可）和光电子动能的测量（需测量光电子的截止电压）.然后就可以计算出逸出功.